面對AI伺服器中的 PCIe 測試挑戰：AEMS是最佳解決方案

面對AI伺服器中的 PCIe 測試挑戰：AEMS是最佳解決方案

為了因應即時且大量的資料處理需求，AI伺服器必須具備更高的效能、穩定性與可靠性。進行完善的PCIe訊號品質測試是確保資料傳輸與系統最佳效能的關鍵步驟。此測試不僅能有效預防系統故障與資料遺失，更能全面提升產品品質與市場信賴度。然而，隨著技術持續進步，PCIe測試也變得更加複雜，特別是對於高效能運算（HPC）與伺服器製造商而言。

伺服器製造商所面臨的挑戰與影響

伺服器製造商在PCIe測試上遭遇諸多難題，這些問題直接影響產品上市時程、效能表現與市場競爭力。

1. 測試效率低下

1. • 繁瑣的手動作業：現有測試流程高度依賴手動操作，例如資料收集與報告產出，不僅耗時，也容易產生人為錯誤。
   • 影響：效率不彰會延遲產品上市，無法及時滿足客戶需求，進而推遲整體發表時程。

2. 測試時間過長

1. • 完整測試流程極為耗時：以一台配備8個PCIe 5.0插槽（x16）的伺服器進行測試，需量測多達 4,608個眼圖，整體測試時間超過40天。
   • 影響：冗長的測試週期拖慢生產進度，延遲上市時程，降低對市場變化速度。

3. 測試覆蓋率不足的風險

1. • 時間限制導致覆蓋率低：為縮短時程，手動測試通常僅挑選不到20%的測項執行，造成測試覆蓋率不足。
   • 影響：測試覆蓋不足可能導致設計缺陷未被發現，影響資料傳輸效能，甚至造成GPU等核心元件的失效，降低產品穩定性與可靠性。

4. 成本壓力

1. • 測試設備與人力投入受限：面對預算限制，許多伺服器製造商難以投入足夠資源購置測試設備與聘用人員。
   • 影響：在缺乏自動化的情況下，企業需增加測試人力與設備支出，成本上升且難以擴充，進一步影響生產效率與競爭力。

🔺 最佳解決方案：AEMS（Allion Electrical Multiport System）

為了解決客戶所面臨的問題，百佳泰開發了AEMS—一套專為高頻、高速訊號量測設計的自動化電氣測試解決方案。AEMS能大幅縮短測試時間、提升測試精準度並簡化測試流程，是針對高速、高頻環境下PCIe測試的最佳選擇。

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