車載高頻高速訊號測試及顧問服務

眼圖（Eye Diagram）的高度只代表訊號的電壓餘量足夠，Jitter（抖動）測的則是訊號時間點是否精準。兩者是不同面向，所以可能出現眼圖漂亮、Jitter 卻不合格的情況。常見原因包括：

• 時脈來源不穩定，例如 PLL 或參考時脈（REFCLK）品質不佳
• 展頻時脈（SSC）設定不當
• 電源雜訊干擾
• 相鄰訊號線之間互相干擾（Crosstalk）
• 線路設計造成訊號反射
• 特定資料組合引起的時間偏移

這類問題通常需要搭配高階量測儀器逐項拆解，百佳泰可協助定位根本原因，並提供具體的改善建議。

這代表訊號一開始勉強過關，但系統在運作過程中逐漸偏離最佳狀態。常見原因包括：

• 接收端的時脈追蹤（CDR）逐漸跟不上訊號
• 晶片自動調整訊號補償參數時出現偏移
• 受測裝置自行重新協商連線狀態
• 運作中溫度上升或電源波動

出錯的時間點也能提供線索：

• 每次都在固定時間出錯：多半是裝置內部某個狀態切換所造成
• 干擾越強、出錯越快：代表訊號的安全餘裕（Margin）不足

百佳泰可在測試時同步記錄錯誤發生時間、連線狀態、溫度與電源變化，協助找出問題的觸發點。

Sync Loss 表示測試儀器已完全無法與受測裝置對上訊號，嚴重程度比零星錯誤更高。可以想像成：零星錯誤像通話中偶爾出現雜音，Sync Loss 則是電話直接斷線。常見原因包括：

• 接收端的時脈追蹤完全失效
• 受測裝置跳出測試模式
• 連線狀態被重新協商
• 測試設定錯誤，例如測試碼型或訊號極性不正確
• 施加的干擾條件過重

建議先將干擾條件降到最低，確認基本連線正常後，再逐步加回測試條件。百佳泰可協助檢查測試設定，並一步步縮小問題範圍。

不一定。DM-I（差模干擾）是測試中刻意加入的雜訊，用來驗證產品的抗干擾能力。關閉後恢復正常，只能說明問題與這項干擾有關，原因可能出在測試端，也可能出在產品端：

• 測試端：干擾量校準過大、量測基準點設定錯誤，使實際干擾超過規範；或與其他干擾疊加後強度過高
• 產品端：接收端的訊號補償能力不足、在干擾下自動調整失穩、時脈追蹤受到影響，或線路反射放大了干擾

建議逐步調整干擾強度，觀察超過哪個程度才開始出錯，就能有效縮小範圍。百佳泰會先確認測試條件符合規範，避免誤判產品品質。

PCIe Gen6 改用 PAM4 傳輸，訊號有四種電位，會形成上下排列的三個眼圖，因此不能只看眼圖有沒有打開，還需要另外檢查兩項指標：

• SNDR（訊雜失真比）：檢查訊號中混入了多少雜訊與失真
• RLM（電位線性度）：檢查四個電位之間的間距是否平均

常見原因包括：

• SNDR 不合格：發射端電路的線性度不佳、訊號補償設定過度、電源雜訊或時脈抖動
• RLM 不合格：四個電位的放大比例不一致，或發射端的驅動能力達到上限

如果只有其中一個眼圖特別小，多半先從 RLM 著手；如果三個眼圖都有打開、但 SNDR 偏低，則較可能是雜訊或失真問題。百佳泰可協助判讀量測結果，提供對應的改善方向。