PCI Express Gen5
隨著PCI Express標準從第4代 (16.0 GT/s) 進化到第5代 (32.0 GT/s)，其信號速率從PCIe 4.0的16GT/s提升到了32GT/s，PCIE 5.0依然使用128/130編碼方式，x16頻寬從64GB/s提升到了128GB/s。
經過2010～2017年間的沉寂後，PCI SIG正加速其發展藍圖（來源：PCI SIG）
PCIe 5.0和4.0有什麼差別？
除了頻寬翻倍之外，PCIe 5.0還帶來了其他變化，例如改變電氣設計以改善信號完整性，向後相容PCIe等等。此外，PCIe 5.0還設計了新標準，減少延遲，並降低長距離傳輸中的信號衰減。
PCIe 4.0和5.0具備許多共同點：兩者均使用 NRZ 調變、128B/130B 編碼，相同的 2.5×10-13 BER 目標以及相同的連接器腳位排列。發射器使用相同的 FFE 方式，並具有 11 組接頭預設 (P0-P10)。
相較於PCIe 4.0使用的2-pole、1-zero CTLE回應，PCIe 5.0使用4-pole、2-zero CTLE 濾波器回應。新的 CTLE 提供更大的彈性，以及從-5到-15 dB更深的增益範圍。PCIe 5.0還增加了第三個參考接收器（DFE）。
速率從16GT/s提升到32GT/s的最大困難，莫過於最大允許損耗從30dB增加到37dB；毫不意外的是，PCIe 5.0通道要求也一併歷經了重新定義，因此板卡機電 (CEM) 規格要求擴充卡只能採用表面黏著貼裝連接器。工程師也因為資料速率加倍而面對各種新的驗證挑戰：
- 克服更高的通道損耗及符號間干擾
- 設計能在更加受限的環境中，以較小邊際運作的組件及平臺
- 同時在實體層和通訊協定層進行除錯
發送、接收端測試規範
發送端的測項包含：
- Tx Signal Quality Test
- Tx Preset Test
- Tx LEQ Test
- Tx Initial TXEQ Test
- Lane Margining Test
- PLL Test
- CLK Test
System Tx Diagrams
AIC Tx Diagrams
接收端的測項包含：
- RX BERT Test
- RX LEQ Test
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