PCIe® Gen6:新世代高速傳輸的關鍵規範

隨著AI 伺服器對高速運算效能的需求不斷攀升,現行的 PCIe Gen5 顯然已無法滿足當今的頻寬要求。為順應接下來的技術挑戰,PCIe技術也正式從 PCIe Gen5 邁入全新的PCIe Gen6世代,這不僅僅是為了因應指數級增長的巨量資料,同時也為新興技術的發展打造了堅實基礎。

 

PCIe Gen6 的三大技術創新

​為實現這些需求,PCIe Gen6 引入了多項關鍵的技術變革,主要有以下三點:

 

PAM4 (4-level Pulse Amplitude Modulation) 調變

PAM4 調變是 PCIe Gen6 實現速度翻倍的核心技術。相較於 Gen5 使用的NRZ (Non-Return-to-Zero),PAM4 在每個時脈週期內傳輸2個位元,而非1個,這也讓 Gen 6 得已在相同的頻率下,使資料傳輸速率達到倍增的效果。

FLIT (Flow Control Unit) 編碼

為配合 PAM4 調變,PCIe Gen6 採用了基於FLIT的編碼方式,這不僅簡化了資料封包處理,同時也能與 FEC (前向錯誤更正) 協同運作。

FEC (前向錯誤更正) 和CRC

由於 PAM4 訊號對雜訊更為敏感,因此 PCIe Gen6 引入了輕量級的 FEC 來確保資料的完整性和可靠性,同時保持低延遲。

 

百佳泰 PCIe 6.0 測試治具系列,業界首波支援 All Form Factors

百佳泰多年來深耕測試領域,具備豐富的標準化與客製化治具開發經驗,不僅熟悉各國協會的測試規範與流程,更長期與客戶密切合作,成為業界公認的可靠量測夥伴。早在2022年,百佳泰即洞察 PCIe 周邊測試需求快速攀升,並自主打造 PCIe 高頻治具,填補市場空缺,協助客戶解決在產品驗證上的諸多痛點。如今來到 PCIe Gen6 的新世代,百佳泰更是延續技術優勢,率先推出業界首波支援 All Form Factors 的 PCIe 6.0 測試治具系列,完整涵蓋 CEM、OCP NIC 3.0、E1/E3、M.2、U2/U3 等主流介面,彈性因應多樣化應用情境。

百佳泰 PCIe Gen6 Test Fixtures

接下來就讓我們一同來看看百佳泰此次全新開發的 PCIe 6.0 測試治具系列。

PCIe 6.0測試治具 | E1/E3 CLB6.0 Test Fixture (APT25015)

Overview
● PCIe EDSFF E1/E3 Form Factor (APT25015)
● 2X Calibration on Board

Application Area
● PCIe Gen1 to Gen6 Host Electrical Testing
● Allion Automation AEMS-8T

PCIe 6.0測試治具 | CEM CLB6.0 Test Fixture (APT25013)

Overview
● PCIe OCP NIC 3.0 Form Factor (APT25013)
● 2X Calibration on Board

Application Area
● PCIe Gen1 to Gen6 Host Electrical Testing
● Allion Automation AEMS-16T

PCIe 6.0測試治具 | CEM CLB6.0 Test Fixture (APT25012)

Overview
● PCIe CEM Form Factor (APT25012)
● 2X Calibration Board

Application Area
● PCIe Gen1 to Gen6 Host Electrical Testing
● Allion Automation AEMS-16T

PCIe 6.0測試治具 | CEM CLB6.0 Test Fixture (APT25017)

Overview
● PCIe CEM Form Factor for Lane
0/3/4/7/8/11/12/15 (APT25017)
● 2X Calibration on Board

Application Area
● PCIe Gen1 to Gen6 Host Electrical Testing
● Allion Automation AEMS-8T

PCIe 6.0測試治具 | U.2/U.3 CLB6.0 Test Fixture (APT25042)

Overview
● PCIe U.2/U.3 Form Factor (APT25042)
● Golden Finger Type to reduce U.2 Connector Loss
● 2X Calibration on Board

Application Area
● PCIe Gen1 to Gen6 Host Electrical Testing
● Allion Automation AEMS-4T

PCIe 6.0測試治具 | M.2 CLB6.0 Test Fixture (APT22105)

Overview
● PCIe M.2 Full Lanes Form Factor (APT22105)
● 2X Calibration Board

Application Area
● PCIe Gen1 to Gen6 Host Electrical Testing
● Automation Solution AEMS-4T

 

百佳泰的獨家優勢

百佳泰此次推出的 PCIe CLB6.0 測試治具擁有前一代以及市面上其他方案所沒有的全新設計工藝。

  • 全新SMPM 模組,從1×4 改良進化到1×8
  • One-Piece 設計,所有的Form Factor 都不需要更換板子、不需重新換線組裝。

百佳泰的獨家優勢

百佳泰此次推出的 PCIe CLB6.0 測試治具擁有前一代以及市面上其他方案所沒有的全新設計工藝。

  • 全新SMPM 模組,從1×4 改良進化到1×8
  • One-Piece 設計,所有的Form Factor 都不需要更換板子、不需重新換線組裝。

除了上述提到的PCIe 6.0測試治具外,百佳泰同時也可提供USB、Thunderbolt、HDMI及DisplayPort等合格標準治具。除此之外,我們也能依據特定連接器與電性需求,為客戶量身打造客製化治具服務。若您有任何測試、驗證或是顧問諮詢服務等相關需求,歡迎透過線上表單與我們聯繫,百佳泰隨時準備好為您打造量身定制的解決方案,協助您的產品在競爭激烈的市場中脫穎而出!

 

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