在 AI、雲端運算 和次世代 資料中心（Data Center） 的時代，超高速運算與產品的穩定性及可靠性需求日益提高。而這些產品應用為支援海量的資料傳輸與高效能運作，主要仰賴如 DDR5、PCIe Gen 6、High-Speed Ethernet、SAS、MCIO 等高速介面。隨著技術的不斷演進，研發團隊正面臨著一個除了強調快速，同時更需準確完成產品驗證的重大難題。
在產品開發流程中，工程師需要經歷多個驗證階段，不論從訊號模擬、原型測試，還是最終的相容性驗證皆是產品開發驗證的必經之路。而其中相當關鍵的一環便屬「訊號量測與驗證」了。倘若手邊沒有合適的測試治具，即便是設計良好的產品也可能在此階段遭遇到瓶頸。
缺乏合適測試治具的五大劣勢
- 由於訊號完整性不足，導致量測結果不準確
- EMI、串擾等干擾加劇，導致量測雜訊不可預測
- 測試結果難以重現，進而影響判讀
- 設計誤判風險提高，導致電路板重製、增加成本
- 延遲產品開發時程，進而導致上市時間受到影響
研發驗證神隊友！百佳泰給您專業的技術支援
百佳泰測試治具：助你實現高可靠驗證的關鍵利器
- 認證標準治具：與 PCIe、USB、DP、HDMI 等各大協會合作，提供通過認證的高品質治具。
- 客製化治具設計：根據客戶產品需求，設計符合介面、接地與機構條件的專屬治具。
- 精準訊號驗證：有效控制損失與阻抗，提升測試重現性與可信度。
- 全方位測試支援：從模擬建議到實測驗證，百佳泰可提供完整測試流程與相關支援。
透過百佳泰高靈活性的治具設計解決方案，研發團隊將更有信心因應高速驗證挑戰，不僅加速開發流程，同時還可有效降低風險，以確保產品準備好迎接AI、雲端與資料中心應用等技術挑戰。
有煩惱，就來問！百佳泰專家幫你解答
不論產品、產業、生態圈，填表就能問專家！
更多成功案例
