電壓－溫度四象限變化(4 Corner)可靠度測試
近年來的電子構裝技術，由於上游晶片的設計與製造能力不断提升，產出高密度、高IO數（輸出入接點數）、高速度及高功率等相關電子產品，以及消費者對3C電子產品輕、薄、短、小的殷切需求；在此兩面夾擊之下，迫使各層次的構裝業者，需要不斷發展新技術，以達到減小體積、增加良率、提高熱效果、降低成本及加強可靠度等，來符合市場需求。各個電子元件運作時所產生的熱，也必須在構裝的設計上考慮去除，以保持電子產品的操作溫度在合理的範圍內，電子產品才能有效運作並維持產品壽命。 電壓及溫度四象限變化測試是針對測試系統，進行溫度與電壓的四點極限點測試。透過調整測試系統的工作電壓與工作環境溫度，變化組合溫度與電壓的高低極限值，並同時運行高負載的運算，以驗證測試系統的可靠度符合設計與規劃時的預期表現。 要驗證工作環境溫度，就必須備有可程式控制的溫箱（Thermal Chamber），百佳泰（Allion Labs）除了有給小型待測物例如：固態硬碟、手機、筆記型電腦等所使用的小型可程式控制溫箱，近期更引進了可程式控制的大型環境實驗室（Walk-in Thermal Chamber），可提供給較大型的待測物，例如電視、大型伺服器一個穩定可控制的工作環境溫度，並可依客戶的需求，設計待測物於內箱的擺放方式。 百佳泰引進的可程式控制的大型環境實驗室（Walk-in Thermal Chamber）規格如下: 適用溫度範圍 -20℃ 至 80℃. ，常溫至-20℃約 [...]
