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USB產品充電過熱的4大潛在風險,Connector溫升測試實例解析
USB產品充電過熱的4大潛在風險,Connector溫升測試實例解析

前言 相信大家都有替手機或電子產品充電的經驗,而在進行充電的過程中我們往往都會遇到手機或電子產品充電過熱的狀況,然而這個發熱現象有可能來自於電池或是充電迴路的IC;又或者是另一個比較少人特別留意的元件,那就是充電用的連接器!(以下簡稱Connector)   Connector溫度過熱的4大潛在風險  一旦connector的溫度過熱,對電子產品可能造成的影響主要可分為以下4大風險:   Connector溫度過熱潛在風險1:電氣性能降低 在高溫環境下,connector的電氣性能可能會受到導通電阻增加、信號傳輸損耗增加等各種影響,而這些現象都可能導致connector的功能受損或無法正常工作。 Connector溫度過熱潛在風險2:材料膨脹不均 connector中所使用的材料在高溫下可能會膨脹,如果不同部位材料的膨脹率不一致,就很有可能導致connector的結構變形或破裂,進而影響connector的可靠性和耐用性。 Connector溫度過熱潛在風險3:導熱不良 connector在高溫下可能會產生大量熱量,如果connector的散熱設計不良或材料的導熱性能不佳,極可能會導致connector溫度升高速度過快,從而影響connector的性能和壽命。 Connector溫度過熱潛在風險4:焊接問題 connector中的焊接點在高溫下可能會受到應力和熱膨脹的影響,這將容易導致焊接點斷裂或鬆動,進而對connector的連接可靠性產生負面影響。   [...]