面對AI伺服器中的 PCIe 測試挑戰:AEMS是最佳解決方案
面對AI伺服器中的 PCIe 測試挑戰:AEMS是最佳解決方案 為了因應即時且大量的資料處理需求,AI伺服器必須具備更高的效能、穩定性與可靠性。進行完善的PCIe訊號品質測試是確保資料傳輸與系統最佳效能的關鍵步驟。此測試不僅能有效預防系統故障與資料遺失,更能全面提升產品品質與市場信賴度。然而,隨著技術持續進步,PCIe測試也變得更加複雜,特別是對於高效能運算(HPC)與伺服器製造商而言。 伺服器製造商所面臨的挑戰與影響 伺服器製造商在PCIe測試上遭遇諸多難題,這些問題直接影響產品上市時程、效能表現與市場競爭力。 1. 測試效率低下 繁瑣的手動作業:現有測試流程高度依賴手動操作,例如資料收集與報告產出,不僅耗時,也容易產生人為錯誤。 影響:效率不彰會延遲產品上市,無法及時滿足客戶需求,進而推遲整體發表時程。 2. 測試時間過長 完整測試流程極為耗時:以一台配備8個PCIe 5.0插槽(x16)的伺服器進行測試,需量測多達 4,608個眼圖,整體測試時間超過40天。 [...]