Category Archives: System – 實驗數據分享

阻抗不連續對於USB產品帶來的影響
阻抗不連續對於USB產品帶來的影響

USB4產品具有較高的資料數據傳輸速度,因此在PCB的layout及connector的選用上務必格外小心。那該從何確認產品的品質好壞,最直接的方式便是用網路分析儀(Network Analyzer),針對USB4產品的高速信號線進行阻抗量測以及回波損耗的量測。 潛在風險 部分廠商設計自家產品時,layout的設計並未照著規範走,或者因預算考量,選用未經認證的連接器等,這些因素都可能導致產品功能異常,如:資料傳輸數據降低、螢幕顯示異常等。而通常這類產品在阻抗連續或回波損耗特性方面都表現得較差。 實際案例 下圖左紅圈處,可以看到阻抗在連接器的部分非常不連續,而這種現象常常也會在右側紅圈處的回波損耗產生Fail 解決方案 透過百佳泰專業且資深的顧問團隊,使用網路向量分析儀E5071C,並以特定的測試波形執行在USB4產品上,便能將產品的阻抗及回波損耗一探究竟,協助確保產品有最佳的品質。 Faster, Easier, Better! Faster: 百佳泰顧問團隊具有專業、高頻段精密網路向量分析儀,能夠提供快速且精準的阻抗跟回波損耗數據與圖表,並且確保測試結果的準確性和可靠性。 Easier: 百佳泰同時提供針對信號反射損失原因與解決方案的多重面向分析與量測支援;多面向分析能夠協助製造商更全面地了解信號反射損失的來源,使其更容易掌握製程變化因素,進而優化產品設計,提高信號品質和性能。 [...]

電腦無線效能低落如何改善?專家實測案例傳授,手把手教你Debug!
電腦無線效能低落如何改善?系統內部雜訊抑制實測案例與解析傳授!(進階篇)

無線效能對個人電腦(PC)的重要性在當今數位化世界中日益突顯。隨著人們對網路連接的需求不斷增加,無線效能已成為現代生活和工作的關鍵元素之一;無線效能對PC的重要性在於它直接影響著用戶體驗、生產力和工作效率。一台PC具有優異的無線效能,將使用戶能夠充分利用現代數位化世界所提供的各種服務和應用;而當產品設計出來後,無線效能低落時,就需要專業的顧問團隊給予建議跟協助。 電腦無線效能低落,內部雜訊抑制與改善實例分享 承上篇『電腦無線效能低落如何改善?專家實測案例傳授,手把手教你Debug!』,我們經過天線調整的驗證,吞吐量(Throughput)有了一定程度改善,但在2.4GHz Channel 1, 11的RX (downlink) 數值仍是不甚理想,TX (uplink)的數值則非常好,通常此現象是因產品內部雜訊造成,因此本篇百佳泰專業顧問團隊將進一步地針對DUT內部雜訊的分析與抑制實作提供經驗分享。 雜訊生成主要來自於電源、高速運算與通訊等主動元件與電路(下圖),雜訊透過輻射以及實體電路傳導,進而影響到天線收發或者無線通訊模組,造成Wi-Fi、BT等無線性能變差,所以雜訊越小越好。 通常處理雜訊有兩大方向:PCB電路與機構設計 PCB電路設計:雜訊電路新增濾波器與電容等零件、更改電路走線與大量鋪地 (Ground),降低雜訊能量,減少影響其系統或天線的機會。 機構設計:封堵雜訊源與天線附近的結構縫隙,阻止雜訊洩漏影響天線收發。 百佳泰顧問團隊透過隔離室 [...]

一文看懂USB Type-A高頻治具的重要性
一文看懂USB Type-A高頻治具的重要性

USB從問世以來,至今發展已有近30年的歷史,從最早的USB1.0到現今的USB4,其介面包含了USB Type-A、Type-B與Type-C。USB 規範隨著科技進步不斷更叠,不僅在傳輸速度不斷提升,在應用領域亦不斷擴增。百佳泰在此篇將著墨大家普遍使用在PC或大型設備上的Type-A介面。雖然Type-A介面在技術上已是相當久的產品,在速度上相容了低速USB2.0 (480Mbps) 以及高速Superspeed (5Gbps) / Superspeed+(10Gbps),但正因這種設計方式,代表著廠商在設計連接器時,更要注意在內部訊號pin的排列設計方式是否適當,而能減少互擾的情況發生。 USB Type-A介面蘊含潛在風險,百佳泰提二案例說明與化解 淺在風險 如前所述,雖然Type-A介面已是技術很成熟的產品,但由於中小型傳產可能對於PCB的設計以及製作能力不甚孰悉,導致可能無法製作出可以通過協會認證標準的高頻治具板。再者,Type-A介面雖然是一個標準,但外部訊號pin腳的設計可以有SMD或是Dip的方式,以及每個訊號pin間的距離以及寬度並未強制規定,因此會依據不同的設計而有不同的排列,這在高頻的電磁波運行上就可能會產生不同的干擾,所以在高頻治具板的設計上就須多加以斟酌考量。此外,以應用在主機Host上雙層、三層、四層設計的Type-A介面來說,這些和單層設計的Type-A相比來說更是複雜了。 解決方案 百佳泰在高頻領域上深耕多年,已協助眾多客戶解決此方面的難題。以USB Type-A介面最高標準的USB [...]

電競掌機採購詢價RFQ必要的驗收條件
電競掌機群雄並起,哪些風險必留意?如何制定採購要求?

當新一代電競掌機登場,帶來的是更強大的硬體規格與令人驚嘆的效能,而玩家也不再僅尋求掌中的遊戲樂趣,更多的期待是能連接各式電競周邊,打造出豐富的遊戲環境,擴展更多可能性。想要全方位沉浸於遊戲世界,意味著有更多的自由和選擇,因此對於品牌商而言,該注意哪些關鍵風險,從而在提出採購詢價(RFQ, Request for  Quotation)時,設定必要的驗收條件,百佳泰將在文中分享給您。 電競掌機的五大應用風險與解決方案 百佳泰顧問團隊統整目前市面上熱門的四款電競掌機,統整其連接性與擴充能力,相關資訊可參考下表,我們藉由市面上的實際產品進行分析,讓大家更了解採購時應當注意的關鍵規格與應用要點,掌握品質檢收時應當注意的風險。 ■擴充基座: 擴充基座可以讓電競掌機功能更加豐富,提供了各式插孔讓掌機連接多項周邊設備,同步進行充電、外接滑鼠鍵盤、連接顯示器、網路線、讀取記憶卡等,增加許多靈活性。 四款電競掌機只有B款和D款有原廠擴充基座,A款雖沒有原廠擴充基座,但仍可使用其他廠牌擴充。 ■顯示器連接: 電競掌機不只個人獨享暢玩,還能將之連接到顯示器,達到多人同樂對戰的效果,而在連接顯示器後,也能充當個人電腦,上網瀏覽、觀賞影音、文書處理、辦公等皆十分方便。 C款掌機在連接顯示器只能利用無線投影 (Chromecast) 的方式,使畫面顯示勢必會有延遲,且易受到環境干擾;其餘三款掌機則可以透過USB-C線連接顯示器,或者透過擴充基座來連接顯示器。 ■無線能力: [...]

阻抗作祟讓讀卡機讀不到SD卡?
阻抗作祟讓讀卡機讀不到SD卡?

相機是種能夠捕捉美麗瞬間的神奇工具,有玩過相機的人都知道,它的行動儲存裝置就在一張小小的儲存卡中,將拍攝的照片和影片都儲存起來,而當中最通用的儲存卡就是SD卡(Secure Digital Card)。SD卡發展歷史已久,從前速度只有12.5MB/s,到目前最新的SD Express則高達3940MB/s,支援更高的解析度與更大的容量,讓使用者不論是紀錄日常生活,或是專業報導拍攝,都可以用SD卡來儲存作品。 Source 讀卡機阻抗控制的潛在風險 每一次拍攝的照片和影片都是珍貴的成果,它們記錄了生活中的美好瞬間,然而一旦要透過讀卡機傳送出來時,卻發生無法讀取、傳送的狀況,就成了令人崩潰的夢魘,百佳泰深究原因,可能是讀卡機裡的阻抗未控制好,導致訊號傳輸的品質和效率降低,甚至出現錯誤或中斷。 阻抗是指電路中的電阻和電抗的綜合表現,它會影響電流的流動和電壓的變化,導致阻抗控制不好的可能原因如下: 錯誤焊盤尺寸:因為設計不當,導致元件焊點形成不足或是焊接連接不當。這會造成電路的不連續或不穩定,影響訊號的傳輸品質。 加工不易:取決於每家板廠的能力,過小過於精密的設計並非每家廠商都有能力產出,不僅增加製造的成本和難度,也會降低產品的良率和可靠性。 阻抗控制:如果沒考慮好匹配的阻抗值,易產生不連續的阻抗表現,導致訊號的反射和干擾,影響訊號的傳輸效率和準確性。 實際案例 百佳泰檢測諮詢經驗豐富,實際經手案例中就遇過客戶送測的SD connector其紅線RX connector處為原始Pad量到的阻抗為74 [...]

HALT高加速壽命試驗:快速揭露產品設計缺陷的極限測試推進器
HALT高加速壽命試驗:快速揭露產品設計缺陷的極限測試推進器

在強調可攜性(portable)的年代,人稱「二合一筆電」的平板筆電便成為許多消費者趨之若鶩的3C產品。說到平板筆電,不論是其雙向連接設計,面板與鍵盤底座可分離的獨特功能,再加上兼具筆電模式、平板模式、翻轉模式及帳篷模式等多種使用方式,讓使用者在不同的使用情境下都能隨意調整,輕巧靈活的便利性也為多數消費者提供了絕佳的使用體驗。然而也正是這樣的獨特設計,潛藏著傳統筆電供應商在產品設計上容易忽視的潛在風險。     平板筆電的耐用度風險  一般二合一平板筆電的面板與鍵盤底座主要採用Pogo Pin或磁吸的連接方式來傳遞訊號,若是出現設計品質不佳或是選料與組裝等前期問題,就容易導致面板與底座間的接觸不良,進而影響訊號溝通,造成鍵盤底座的功能失效(包含鍵盤、硬碟、I/O擴充槽等皆無法使用),最終引發客訴問題。然而麻煩的是,類似這樣的產品耐用度風險往往無法在開發階段被有效地發現,而是要等到產品上市一段時間後才會逐漸浮現。   HALT高加速壽命試驗實例分享 針對這類型的產品耐用問題,百佳泰專業顧問團隊建議廠商可進行HALT高加速壽命試驗(Highly accelerated life test)來及早發現及預防產品設計上的潛在缺陷。HALT是一種能夠在產品設計初、中期快速檢視產品目前在設計上的優缺點,透過設置逐級遞增、加嚴的環境應力,挖掘產品在不同階段的設計上、製造上及以及使用上等產品弱點及相關缺陷。   HALT試驗流程圖   [...]

USB產品充電過熱的4大潛在風險,Connector溫升測試實例解析
USB產品充電過熱的4大潛在風險,Connector溫升測試實例解析

前言 相信大家都有替手機或電子產品充電的經驗,而在進行充電的過程中我們往往都會遇到手機或電子產品充電過熱的狀況,然而這個發熱現象有可能來自於電池或是充電迴路的IC;又或者是另一個比較少人特別留意的元件,那就是充電用的連接器!(以下簡稱Connector)   Connector溫度過熱的4大潛在風險  一旦connector的溫度過熱,對電子產品可能造成的影響主要可分為以下4大風險:   Connector溫度過熱潛在風險1:電氣性能降低 在高溫環境下,connector的電氣性能可能會受到導通電阻增加、信號傳輸損耗增加等各種影響,而這些現象都可能導致connector的功能受損或無法正常工作。 Connector溫度過熱潛在風險2:材料膨脹不均 connector中所使用的材料在高溫下可能會膨脹,如果不同部位材料的膨脹率不一致,就很有可能導致connector的結構變形或破裂,進而影響connector的可靠性和耐用性。 Connector溫度過熱潛在風險3:導熱不良 connector在高溫下可能會產生大量熱量,如果connector的散熱設計不良或材料的導熱性能不佳,極可能會導致connector溫度升高速度過快,從而影響connector的性能和壽命。 Connector溫度過熱潛在風險4:焊接問題 connector中的焊接點在高溫下可能會受到應力和熱膨脹的影響,這將容易導致焊接點斷裂或鬆動,進而對connector的連接可靠性產生負面影響。   [...]